可自动产生并发送集成电路测试条件的系统与方法

摘要

在IC器的测试中自动生成测试条件并将该条件送到测试仪器的系统，包括：能从含有IC器件产品信息库的远程主机上为测试条件采集必要数据的数据采集装置；能通过将采集到的数据与一预定控制条件进行比较进而产生测试条件的运算装置；能通过使用相应测试程序将测试条件发送到可以控制多个测试仪器的测试主机，并能将测试条件调入相应测试程序的发送装置。

主权项

1.一种用于在半导体集成电路器件的测试中自动产生测试条件，并能将产生的测试条件自动发送给测试仪器的系统，其特征在于包括：能从含有IC器件生产信息库的远程主机上为测试条件采集必要数据的数据采集装置；能通过将采集到的数据与一预定测试条件进行比较进而产生测试条件的运算装置；能通过使用相应测试程序将测试条件发送到可以控制多个测试仪器的测试主机，并能将测试条件调入相应测试程序的发送装置。