发明名称 |
半导体存储装置及半导体集成电路 |
摘要 |
本发明提供抑制流过存储单元的驱动电流的下降,可以进行高速动作的屏蔽ROM。利用具有虚设栅电极(105)的虚设MOSFET,分离沿比特线(102)延伸的方向邻接的存储单元内的NchMOSFET。这样,由于能够降低由STI施加给NchMOSFET沟道区域的应力,所以能抑制NchMOSFET的驱动电流的减少。 |
申请公布号 |
CN1540760A |
申请公布日期 |
2004.10.27 |
申请号 |
CN200410036906.5 |
申请日期 |
2004.04.21 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
平田昭夫;森胁俊幸;当房哲朗;冈本奈奈;林光昭 |
分类号 |
H01L27/105;H01L27/112;H01L21/82;H01L21/8246;G11C17/12 |
主分类号 |
H01L27/105 |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
汪惠民 |
主权项 |
1、一种半导体存储装置,其特征在于,具有:多个字线,与所述多个字线交叉的多个比特线,设置在半导体基板上、分别包含拥有第1杂质扩散层、第2杂质扩散层及栅电极的MOSFET的多个存储单元;在所述多个存储单元中,当将沿所述比特线的延伸方向互相邻接的存储单元,作为第1存储单元及第2存储单元时,在被所述第1存储单元包含的第1MOSFET的第1杂质扩散层与被所述第2存储单元包含的第2MOSFET的第1杂质扩散层之间,设置与第1电源连接的第1虚设栅电极;所述第1MOSFET的第1杂质扩散层、所述第2MOSFET的第1杂质扩散层和所述第1虚设栅电极,构成在动作期间保持OFF状态的第1虚设MISFET。 |
地址 |
日本大阪府 |