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发明名称 Configurable probe pads to facilitate parallel testing of integrated circuit devices
摘要
申请公布号 EP0745859(B1) 申请公布日期 2004.10.27
申请号 EP19960302949 申请日期 1996.04.26
申请人 STMICROELECTRONICS, INC. 发明人 BRANNIGAN, MICHAEL JOSEPH;LYSINGER, MARK ALAN;MCCLURE, DAVID CHARLES
分类号 G01R31/28;G11C29/48;(IPC1-7):G01R1/04;G01R31/316 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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