| 发明名称 | 测理输送带上准备热处理的料层的表面高度的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及在料层由单一类型的易碎球形颗粒组成时，对输送带上准备连续控制热处理即连续控制烧结的料层表面高度进行测量的方法。根据本发明：以至少一个光源(5)在所述输送带(4)的横向方向上照射输送带(4)上形成的料层(3)，从而光束(6)在料层(3)的表面形成一道直的光线段(7)；为了记录所述光线段(7)至少使用一部相机(8)和至少一个与所述相机(8)连接的图象处理装置(9)；为了探测出表面高度的偏差，所述图象处理装置(9)把所获取的表面高度图象与预定的所需表面高度图象相比较；为了纠正表面高度上的偏差，所述图象处理装置(9)与自动装置(10)连接。 | ||
| 申请公布号 | CN1173153C | 申请公布日期 | 2004.10.27 |
| 申请号 | CN01814682.1 | 申请日期 | 2001.08.24 |
| 申请人 | 奥托库姆普联合股份公司 | 发明人 | 佩卡·涅梅莱;埃罗·韦内宁;拉伊莫·罗瓦宁;约科·皮蒂马;奥拉维·图尔基 |
| 分类号 | G01B11/06 | 主分类号 | G01B11/06 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 董敏 |
| 主权项 | 1.一种在料层由单一类型的易碎球形颗粒组成时，对输送带上准备连续操作热处理即连续操作烧结的料层表面高度进行测量的方法，其特征在于：以至少一个光源(5)在所述输送带(4)的横向方向上照射输送带(4)上形成的料层(3)，从而光束(6)在料层(3)的表面形成一道直的光线段(7)；为了记录所述光线段(7)，至少使用一部相机(8)和至少一个与所述相机(8)连接的图象处理装置(9)；为了探测出表面高度的偏差，所述图象处理装置(9)把所获取的表面高度图象与预定的所需表面高度图象相比较；为了纠正表面高度上的偏差，所述图象处理装置(9)与自动装置(10)连接，其特征在于所述输送带(4)的速度根据所述光线段(7)产生的图象来调整(9)。 | ||
| 地址 | 芬兰埃斯波 | ||