发明名称 |
System on chip (soc) and method of testing and/or debugging the system on chip |
摘要 |
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申请公布号 |
GB2391358(B) |
申请公布日期 |
2004.10.27 |
申请号 |
GB20030009712 |
申请日期 |
2003.04.28 |
申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
DONG-KWAN * HAN |
分类号 |
G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;G06F11/22;G11C29/00;(IPC1-7):G06F11/267;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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