发明名称 景泰蓝结构的化学机械抛光中的终点检测
摘要 景泰蓝结构的制造方法,其中金属氧化物层的顶表面与基底上形成的金属结构的顶表面共平面。至少在金属结构的顶表面上淀积氮化物层,在金属结构和氮化物层上淀积金属氧化物层。然后通过使用浆料的化学机械抛光(CMP)工艺,对金属氧化物层进行抛光,暴露金属结构顶表面上的氮化物层。对氮化物层的抛光使氨产生于浆料中。从浆料中提取气体的氨,根据提取氨的浓度产生信号。根据信号的变化终止CMP工艺。
申请公布号 CN1173334C 申请公布日期 2004.10.27
申请号 CN01121832.0 申请日期 2001.06.27
申请人 国际商业机器公司 发明人 李乐平(音译);史蒂文·乔治·巴比;埃里克·詹姆斯·李;弗朗西斯科·A.·马丁;魏丛(音译)
分类号 G11B5/127;B24B49/00;B24B7/20 主分类号 G11B5/127
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王永刚
主权项 1.一种景泰蓝结构的制造方法,其中金属氧化物层的顶表面与基底上形成的金属结构的顶表面为共平面,该方法包括以下步骤:至少在金属结构的顶表面上淀积氮化物层;在金属结构和氮化物层上淀积金属氧化物层;通过使用浆料的化学机械抛光工艺对金属氧化物层进行抛光,以便去除氮化物层上的金属氧化物,从而暴露金属结构顶表面上的氮化物层;通过化学机械抛光工艺抛光金属氧化物层和氮化物层,对氮化物层的抛光在浆料中产生氨;从浆料中提取作为气体的氨;根据在所述提取步骤中提取的氨的浓度产生信号;根据信号的改变终止化学机械抛光工艺。
地址 美国纽约