发明名称 PHOTOLITHOGRAPHIC CRITICAL DIMENSION CONTROL USING RETICLE MEASUREMENTS
摘要
申请公布号 EP1470447(A1) 申请公布日期 2004.10.27
申请号 EP20020784585 申请日期 2002.11.25
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 RANKIN, JED, H.;SCHNEIDER, CRAIN, E.;SMYTH, JOHN, S.;WATTS, ANDREW, J.
分类号 G03C5/00;G01D18/00;G03F7/20;G06F17/50;G06F19/00;G21K5/00;H01L21/027;(IPC1-7):G03C5/00 主分类号 G03C5/00
代理机构 代理人
主权项
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