具有复数个自我校正介面之数位系统

摘要

一种校正一介面的方法系被提供，用以欲维持多个自我校正介面间之同步资料抵达时，自动地完成一最小化周期潜伏期。独立自我校正介面可减少资料的偏斜，同时使他们在最少的周期内抵达。然而，若所有介面无法在同一周期内抵达，SMP设计便不能正常的运作。例如，在一AMP节点上之单一控制晶片及多个资料晶片中，控制晶片通常传送出数个控制至资料流晶片(dataflow chip)，若资料并非藉由其控制使其同时抵达弹性介面，该资料便无法正常地流动。本方法使用一校正型态以判断资料穿过弹性介面而被接收到之最近周期，以及计算用于所有介面之目标周期来配合此最近周期。其目标周期被回馈至其设计，且资料会被同步会地接收。一种测试亦被提供，用来确认资料同步化地抵达。

主权项

1.一种在一数位系统中同步化资料之方法,该数位系统具有多个自我校正介面,该方法包含以下步骤:(a)经由该弹性介面之每一滙流排传送一同步化型态(synchronization pattern);(b)判断一用于具有最近到达弹性介面资料抵达之该弹性滙流排之目标周期;以及(c)应用该目标周期至该所有介面。2.如申请专利范围第1项所述之方法,更包含侦测该最早接收到之资料及比较该接收资料之复数个接收同步化型态之步骤。3.如申请专利范围第1项所述之方法,更包含侦测该最早与最近接收到之资料及比较该接收资料之复数个接收同步化型态,以判断该目标周期之步骤。4.如申请专利范围第1项所述之方法,更包含侦测该最早与最近接收到之资料,及比较该接收资料之复数个接收同步化型态,以判断一目标周期,及计算用于更多接收资料之复数个参数,该接收资料系与选择对应至该最近接收资料之该型态有关,以判断用于具有最近到达弹性介面资料抵达之该弹性滙流排之目标周期之步骤。5.如申请专利范围第1项所述之方法,更包含以下步骤:从一弹性介面驱动器传送该同步化型态至一弹性介面接收器,该弹性介面接收器具有多个介面接收暂存器;以及等候所有被监控介面暂存器变为一第一値(如'1');以及等候所有被监控介面暂存器变为一另一値(如'0'),以及进行致能一参考计数器,使得当所有接收资料第一次回到该第一値(如'1')时,该参考计数器値被记录且与任何先前记录之参考计数器値做比较。6.如申请专利范围第5项所述之方法,其中:每次该参考计数器値的一新的最大値被发现时,其被记录至一同步化目标暂存器中作为一被记录之同步化目标暂存器値。7.如申请专利范围第6项所述之方法,其中:当接收器选择被判断为一正常操作,该记录同步化目标暂存器値被回馈至所有弹性介面接收器目标周期输入。8.如申请专利范围第6项所述之方法,其中:当接收器选择被判断为一正常操作,任何记录同步化目标暂存器値被回馈至所有弹性介面接收器目标周期输入直到稳态发生,其间在一检验间隔之每一周期中,所有接收器资料滙流排被检验为相同,据此关闭该同步化型态,而给所有介面及该弹性介面之该目标周期可使用。9.一种在一数位系统中同步化资料之方法,该数位系统具有多个自我校正介面,该方法包含以下步骤:(a)穿过每一该自我校正介面以传送一同步化型态;(b)判断所有该介面皆已正确地接收资料之最近周期。10.如申请专利范围第9项所述之方法,其中该方法更包含:(c)回馈该最近抵达介面周期使得所有介面皆完成相同目标。11.如申请专利范围第9项所述之方法,其中该判断最近周期包含以下步骤:(b-1)侦测当所有介面接收到一'1'时,转换该弹性介面接收器以监控该复数个弹性介面暂存器其中之一;(b-2)侦测所有介面接收到一'1';(b-3)侦测当所有介面回到'0';(b-4)致能一参考计数器;(b-5)侦测当所有介面第一次回到一'1'时,记录该参考计数器;(b-6)当该参考计数器到达一新的最大値时,记录一介面独立运转计数器;(b-7)转换该弹性介面接收器以监控所有该弹性介面暂存器于该正常操作下;(b-8)回馈该记录介面独立运转计数器値为用于所有该弹性介面之该新目标周期。12.如申请专利范围第9项所述之方法,其中更包含以下步骤:(d)检验在一检验间隔之每一周期中,所有该接收器资料滙流排为相同。13.如申请专利范围第9项所述之方法,其中多个自我校正上面及该复数个步骤用以同步化所有该接收资料,即使该同步资料之部分藉由不同的弹性介面滙流排传送,且在不同的潜伏期中抵达。14.如申请专利范围第9项所述之方法,更包含侦测该最早与最近接收到之资料,及比较该接收资料之复数个接收同步化型态,以判断一目标周期,及计算用于更多接收资料之复数个参数,该接收资料系与选择对应至该最近接收资料之该型态有关,以判断用于具有最近到达弹性介面资料抵达之该弹性滙流排之目标周期之步骤,藉由所有该介面以校正其资料至最近抵达介面资料信号,仍维持用于该完整资料之该最早抵达周期以最小化系统潜伏期。15.如申请专利范围第9项所述之方法,更提供该完结介面之一测试,以确认该介面被适当地校正。16.一种数位系统弹性介面装置,包含:一弹性介面,具有多个自我校正介面,每一自我校正介面具有一耦合至一同步及检验电路之输出资料滙流排、一连接至一输入目标周期滙流排之回馈电路及一计算完成开关,该同步及检验电路用以当一同步化致能输入启动时,计算一同步最小化目标周期,该回馈电路用以校正一接收资料滙流排之资料,该开关用以当该同步化目标周期耦合回该弹性介面之一目标周期滙流排时,失能该同步化致能输入。17.如申请专利范围第16项所述之数位系统弹性介面装置,其中提供一检验致能输入,该检验致能输入被激发以致能该同步及检验电路,该同步及检验电路检验以确认该弹性介面之所有接收资料滙流排样本同步化,以及在相同周期皆转换至相同资料。18.如申请专利范围第17项所述之数位系统弹性介面装置,其中若所有该接收资料滙流排样本103在任何周期中不相同,一检验致能信号被致能,使得一输出错误信号启动且维持直到该检验致能信号再度被激发。图式简单说明:第一图为在IBM方法中具有学习目标周期时间之弹性介面,其方法系用以最小化一使用目标周期学习技术之弹性介面中之潜伏期。而第二图为具有学习目标周期时间之复数个弹性介面之较佳实施例,其弹性介面具有耦合至一目标周期同步器及检验器之样本接收资料,其中目标周期同步器及检验器系用以同步化该复数个接收资料滙流排。而第三图为显示目标周期同步器及检验器之效用之时序图。而第四图为在目标周期同步器及检验器电路之装置中,用以实施该方法之较佳装置例。第五图为在目标周期同步器及检验器电路中之定序器控制逻辑之状态图。第六图为使用目标周期同步器及检验器电路之最大计数电路之实施。第七图为使用目标周期同步器及检验器电路之上升边缘侦测器之实施。