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经营范围
发明名称
半导体元件接触制程及结构
摘要
一种半导体元件接触制程及结构,该半导体元件含有第一导电型之基区形成在一基底上,该制程包括在该基区表面形成一重掺杂第一导电型之第一浅层,并沉积一绝缘层再第一浅层上,蚀刻该绝缘层及该第一浅层以分割该第一浅层形成接触洞口,高温趋入以加深该第一浅层之纵向深度,于该接触洞口植入一重掺杂第二导电型之第二浅层,沉积金属层于该接触洞口以电性连接该第一浅层及第二浅层。
申请公布号
TW200421537
申请公布日期
2004.10.16
申请号
TW092107457
申请日期
2003.04.01
申请人
茂达电子股份有限公司
发明人
林伟捷;林明璋;廖崇维
分类号
H01L21/768
主分类号
H01L21/768
代理机构
代理人
黄重智
主权项
地址
新竹市新竹科学园区力行路二号五楼
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