发明名称 半导体元件接触制程及结构
摘要 一种半导体元件接触制程及结构,该半导体元件含有第一导电型之基区形成在一基底上,该制程包括在该基区表面形成一重掺杂第一导电型之第一浅层,并沉积一绝缘层再第一浅层上,蚀刻该绝缘层及该第一浅层以分割该第一浅层形成接触洞口,高温趋入以加深该第一浅层之纵向深度,于该接触洞口植入一重掺杂第二导电型之第二浅层,沉积金属层于该接触洞口以电性连接该第一浅层及第二浅层。
申请公布号 TW200421537 申请公布日期 2004.10.16
申请号 TW092107457 申请日期 2003.04.01
申请人 茂达电子股份有限公司 发明人 林伟捷;林明璋;廖崇维
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 黄重智
主权项
地址 新竹市新竹科学园区力行路二号五楼