发明名称 | 减少埋层接触带外扩散之半导体结构、其制造方法以及半导体记忆体装置的形成方法 | ||
摘要 | 一种减少埋层接触带外扩散之半导体结构,其包括:一电晶体,包括闸极以及位于上述闸极两侧之掺杂区;一埋层接触带,相接于上述两掺杂区之一者;一沟槽,与该埋层接触带相邻;一沟槽式电容,形成于该沟槽之底部包括埋入电极板、电容介电层以及电极板;一导线结构,位于该沟槽式电容上,该导线结构包括环状绝缘层以及被环状绝缘层包围之第一导电层;一侧壁导电层,形成于该沟槽之侧壁;一第二导电层,被该侧壁导电层包围;以及一浅沟隔离结构,位于该沟槽相对于该埋层接触带之另一侧;其中该埋层接触带与沟槽中的侧壁导电层相接,且该侧壁导电层之掺杂浓度低于该第二导电层。 | ||
申请公布号 | TW200421531 | 申请公布日期 | 2004.10.16 |
申请号 | TW092108634 | 申请日期 | 2003.04.15 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 周士衷;陈逸男 |
分类号 | H01L21/76 | 主分类号 | H01L21/76 |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路六六九号 |