| 摘要 |
本发明提供一种积体电路(IC)之认证方法，系用以认证出积体电路之设计来源，其中积体电路至少含有一用以测试积体电路是否功能正常之测试电路，且测试电路系被一测试启动讯号所启动，并可在接收一测试讯号之后产生一测试结果，本发明之认证方法系包含下列步骤：提供一原始认证资料以代表积体电路之设计来源；将原始认证资料转换成一数位认证资料；提供一用以产生数位认证资料的认证电路，其中认证电路系被测试启动讯号所启动，并可在接收测试启动讯号之后产生数位认证资料；对认证电路及测试电路进行整合而成为一整合电路，其中整合电路系被测试启动讯号所启动，并可在接收测试讯号之后依照一处理程序来处理认证电路所产生之数位认证资料及测试电路所产生之测试结果并且产生一输出讯号；输入测试启动讯号及测试讯号至整合电路中，并等待整合电路的输出讯号；于整合电路产生输出讯号之后，依据处理程序对输出讯号进行处理，可得到数位认证资料；对数位认证资料进行判读，可得到原始认证资料。 |
