发明名称 | 互补型金属氧化物半导体图像传感器及其制造方法 | ||
摘要 | 一种本发明的CMOS图像传感器,具有在1.2-4.5V的偏压下完全耗尽的低压光电二极管。该光电二极管包括:P-epi层;将P-epi层分成场区和有源区的场氧化层;形成在P-epi层的N<SUP>-</SUP>区,其中第一杂质区与隔离层分隔开;以及形成在P-epi层下面和N<SUP>-</SUP>区上面的导电类型的P<SUP>0</SUP>区,其中P<SUP>0</SUP>区的宽度宽于N<SUP>-</SUP>区的宽度,从而使P<SUP>0</SUP>区的一部分形成在P-epi层上,由此使P<SUP>0</SUP>区具有与P-epi层相同的电位。 | ||
申请公布号 | CN1171315C | 申请公布日期 | 2004.10.13 |
申请号 | CN99105588.8 | 申请日期 | 1999.02.28 |
申请人 | 现代电子产业株式会社 | 发明人 | 伍德沃德·杨;李柱日;李兰伊 |
分类号 | H01L27/146;H01L21/82 | 主分类号 | H01L27/146 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹 |
主权项 | 1.一种在互补金属氧化物半导体图像传感器件中使用的光电二极管,包括:第一导电类型的半导体层;将半导体层分成场区和有源区的隔离层;第二导电类型的第一杂质区,形成在半导体层内,其中第一杂质区与隔离层分隔开;以及第一导电类型的第二杂质区,形成在半导体层的表面下面和第一杂质区上面,其中第二杂质区的宽度宽于第一杂质区的宽度,从而使第二杂质区的一部分形成在半导体层上,由此使第二杂质区具有与半导体层相同的电位。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |