发明名称 互补型金属氧化物半导体图像传感器及其制造方法
摘要 一种本发明的CMOS图像传感器,具有在1.2-4.5V的偏压下完全耗尽的低压光电二极管。该光电二极管包括:P-epi层;将P-epi层分成场区和有源区的场氧化层;形成在P-epi层的N<SUP>-</SUP>区,其中第一杂质区与隔离层分隔开;以及形成在P-epi层下面和N<SUP>-</SUP>区上面的导电类型的P<SUP>0</SUP>区,其中P<SUP>0</SUP>区的宽度宽于N<SUP>-</SUP>区的宽度,从而使P<SUP>0</SUP>区的一部分形成在P-epi层上,由此使P<SUP>0</SUP>区具有与P-epi层相同的电位。
申请公布号 CN1171315C 申请公布日期 2004.10.13
申请号 CN99105588.8 申请日期 1999.02.28
申请人 现代电子产业株式会社 发明人 伍德沃德·杨;李柱日;李兰伊
分类号 H01L27/146;H01L21/82 主分类号 H01L27/146
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 马莹
主权项 1.一种在互补金属氧化物半导体图像传感器件中使用的光电二极管,包括:第一导电类型的半导体层;将半导体层分成场区和有源区的隔离层;第二导电类型的第一杂质区,形成在半导体层内,其中第一杂质区与隔离层分隔开;以及第一导电类型的第二杂质区,形成在半导体层的表面下面和第一杂质区上面,其中第二杂质区的宽度宽于第一杂质区的宽度,从而使第二杂质区的一部分形成在半导体层上,由此使第二杂质区具有与半导体层相同的电位。
地址 韩国京畿道