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发明名称
Testing of a system-on-chip integrated circuit
摘要
申请公布号
GB0419868(D0)
申请公布日期
2004.10.13
申请号
GB20040019868
申请日期
2004.09.08
申请人
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.
发明人
分类号
G01R31/3185;G06F11/267
主分类号
G01R31/3185
代理机构
代理人
主权项
地址
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