| 主权项 |
1.一种用以测试受测试电子装置(DUT)(120)的电子测 试系统,该电子测试系统包含:一电子处理器(106); 一耦接至该电子处理器的电子记忆体(104);该系统 之特征为: 一属于该记忆体并由该处理器所执行的分层的程 式结构(400),该分层的程式结构具有复数个阶层包 含一对应在该DUT上要被执行之测量的测量阶层(512 )、一对应该等测量中之一个或多个的测试阶层( 508)、及一对应在该DUT上要被执行的该等测试之一 命令表的程序阶层(504)。 2.如申请专利范围第1项之电子测试系统,其中,该 分层的程式结构更包含一对应一测量之单一结果 的资料点阶层(516),并且该测量阶层包含复数个该 等资料点。 3.如申请专利范围第2项之电子测试系统,其中,该 等阶层中之每一者系实施于该电子测试系统而个 别地作为一测量物件、一测试物件、一程序物件 、及一资料点物件。 4.如申请专利范围第3项之电子测试系统,其中,该 分层的程式结构包含一对应一组用以测试一族DUT 之程序的产品模型阶层(405)。 5.如申请专利范围第3项之电子测试系统,其中,该 测试物件定义一测试演算法,该测试包含一个或多 个由软体码所定义之电子操作,并且用于该等电子 功能之该等电子参数系由该测量物件所提供。 6.如申请专利范围第3项之电子测试系统,其中,该 测试物件包含该测量物件,并且该测量物件包含该 资料点物件。 7.一种用以产生供测试受测试电子装置(DUT)(120)用 之电子测试系统软体程式(400)的方法,该方法包含 下列步骤: 提供一软体程式,该程式具有一具有复数个包含一 对应在该DUT上要被执行之测量的测量阶层(512)、 一对应该等测量中之一个或多个的测试阶层(508) 、及一对应在该DUT上要被执行的该等测试之一命 令表的程序阶层(504)之阶层的分层的结构(405),体 现于该程式中的每个阶层系作为一用以测试一受 测试装置(DUT)的软体物件; 提供一组功能,其中该等功能的执行系由该分层的 结构所定义; 执行该等功能以定义该测试系统软体程式; 藉由执行该等功能产生该等电子测试系统软体物 件;及 利用该等软体物件测试该DUT。 8.如申请专利范围第7项之用以产生供测试受测试 电子装置用之电子测试系统软体程式的方法,其中 ,提供一软体程式之该步骤包含提供一程式,而其 中该分层的结构更包含一资料点阶层其是该测量 阶层的一子集。 9.一种电脑可读取媒体(104),该电脑可读取媒体上 储存有一用以测试一受测试电子装置(DUT)(120)之电 脑程式(400),其特征在于该电脑程式包含: 一测量物件(512)对应一在该DUT上要被执行之测量; 一测试物件(508)定义一利用由该测量物件所提供 之参数的测试演法并对应一在该DUT上要被执行之 测试; 一程序物件(504)对应一在该DUT上被执行之该等测 试的一命令表;及 复数个软体指标(506,510)连接该测量物件、该测试 物件、及该程序物件。 10.一种用以测试受测试装置(DUT)(120)之电子测试系 统(100),该测试系统包含:一电子处理器(106);一耦接 至该电子处理器的电子记忆体(104);该系统之特征 为: 一属于该记忆体并由该处理器所执行的程序(504), 体现于该电子测试系统之该程序系作为一用以测 试一受测试装置(DUT)的软体物件,其中,该程序包含 :一由一等级所定义之功能,其中,该功能的执行系 由该测试系统之使用者藉由执行该等级所定义;该 程序物件包含:该程序物件中的一第一软体物件方 法(508、512、516)组以执行复数个执行该程序物件 的预定功能。 图式简单说明: 第1图系一连接至一受测装置(DUT)之本发明较佳实 施例的主要硬体元件之方块图; 第2图系一说明第1图之处理器连接的方块图; 第3图系一根据本发明较佳实施例所产生的萤幕显 示; 第4图系该测试系统与相关介面物件的一方块图; 第5图系该等测试软体元件之分层的一方块图; 第6图系该资料点及规格分析与公布的一流程图; 第7图系该测量与资料点处理的一流程图;及 第8图系该测试方法与程序处理的一流程图。 |
