发明名称 多段功能测试治具
摘要 本创作系提供一种多段功能测试治具,其系包括有:一承载座、一测试座、复数个弹性体、一盖体以及一偏移装置。承载座具有可提供置放一待测物之一容置空间,容置空间布设有贯穿承载座之复数个通孔,测试座具有至少一组不同高度之复数个顶针,复数个顶针之位置分别对应于复数个通孔,弹性体连接承载座与测试座,使测试座与承载座相距一距离,盖体可与承载座相贴靠,盖体更具有延伸出承载座之一凸伸臂,偏移装置具有一轴心以及一曲面,曲面上之不同位置与该轴心相距不同长度距离,曲面藉由盖体与承载座相贴靠时可提供凸伸臂抵靠,当盖体与承载座相贴靠时,藉由该凸伸臂压迫曲面上之不同位置,使复数个弹性体形变以改变承载座与测试座相距之距离。
申请公布号 TWM246594 申请公布日期 2004.10.11
申请号 TW092218877 申请日期 2003.10.24
申请人 明基电通股份有限公司 发明人 刘丰吉
分类号 G01R31/01;G01R31/02;G01R31/00 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人 何文渊 台北市信义区松德路一七一号二楼
主权项 1.一种多段功能测试治具,其系包括有: 一承载座,其系具有可提供置放一待测物之一容置 空间,该容置空间其系布设有贯穿该承载座之复数 个通孔; 一测试座,该测试座具有至少一组不同高度之复数 个顶针,该复数个顶针之位置分别对应于该复数个 通孔; 复数个弹性体,该弹性体其系连接该承载座与该测 试座,使该测试座与该承载座相距一距离; 一盖体,其系可与该承载座相贴靠,该盖体更具有 延伸出该承载座之一凸伸臂;以及 一偏移装置,其系具有一轴心以及一曲面,该曲面 上之不同位置其系与该轴心相距不同长度距离,该 曲面藉由该盖体与该承载座相贴靠时可提供该凸 伸臂抵靠; 其中,当该盖体与该承载座相贴靠时,藉由该凸伸 臂压迫该曲面上之不同位置,藉由该复数个弹性体 形变,以改变该承载座与该测试座相距之距离。 2.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具, 其中该凸伸臂更具有一开孔,该开孔可与一导杆相 连接,使该盖体沿该导杆延伸方向作一线性位移运 动。 3.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具, 其中该偏移装置其系以该轴心为中心进行一旋转 运动。 4.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具, 其中该偏移装置其系为一凸轮结构。 5.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具, 其中该偏移装置其系为一偏心轮结构。 6.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具, 其中该顶针其系为一弹性元件,可藉由施力压迫进 行适当高度之位移运动。 7.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具, 其中该弹性体中更具有一定位体,该定位体可使得 该承载座位于该测试座上进行一线性位移运动。 8.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具, 其中该顶针其系贯穿该测试座而延伸出该测试座 之底面。 9.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具, 其中该不同高度之复数个顶针其系可与该行侧物 进行接触连接,且提供不同之电子讯号进行测试。 10.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具 ,其中该复数个顶针系包括一第一顶针与一第二顶 针,该第一顶针较该第二顶针为高,该复数个顶针 系可与该待侧物进行接触连接,且提供不同之电子 讯号进行测试。 11.如申请专利范围第1项所述之多段功能测试治具 ,其中藉由该凸伸臂压迫该曲面上使该承载座与该 测试座距一第一距离与一第二距离,该第一距离大 于该第二距离,当该承载座与该测试座相距第一距 离时,该待测物以一第一顶针测试,当该承载座与 该测试座相距第二距离时,该待测物另加以一第二 顶针测试。 图式简单说明: 图一A其系为习用之待测基板功能测试治具实施例 立体结构示意图。 图一B其系为习用之待测基板功能测试治具实施例 剖视结构示意图。 图二A其系为本创作之多段功能测试治具较佳实施 例立体结构示意图。 图二B其系为本创作之多段功能测试治具较佳实施 例A-A剖面结构示意图。 图三其系为本创作之偏移装置旋转圆周运动相对 应线性位移状态示意图。 图四A至图四D其系为本创作之多段功能测试治具 剖面连续动作较佳实施例示意图。
地址 桃园县龟山乡山莺路一五七号