| 主权项 |
1.一种用以检查一显示器之装置,该显示器配备一 像素电极及一用于控制将一电压信号供应至该像 素电极的开关,该装置包括: 一信号输出,用于将所要供应之一电压信号输出至 该像素电极; 一光强度侦测器,其能够侦测位于一相对应于该显 示器上之该像素电极之部位上的光强度;以及 像素电压变化侦测装置,用于在该开关从一ON(开启 )状态偏移成OFF(关闭)状态情况下,依据该光强度的 一变化量来获得像素电压的一变化量。 2.如申请专利范围第1项之用以检查一显示器之装 置, 其中该开关系由一开关元件所组成;以及 该装置包括一扫描信号供应器,用于将用以控制该 开关元件之ON/OFF(开/关)操作之扫描信号供应至该 开关,并且能够在一OFF(关闭)状态中调整该扫描信 号的一位准。 3.如申请专利范围第2项之用以检查一显示器之装 置, 其中该扫描信号供应器被设计,以便能够调整要供 应至配备于该像素电极四周之扫描线的电压,其中 会将该扫描信号供应至该像素电极。 4.如申请专利范围第1项之用以检查一显示器之装 置, 其中该信号输出被设计,以便能够控制该电压信号 的ON/OFF(开/关)操作。 5.如申请专利范围第1项之用以检查一显示器之装 置, 其中该信号输出被设计,以便能够调整要供应至配 备于该像素电极四周之信号线的电压,其中会将该 电压信号供应至该像素电极。 6.一种用以检查一显示器之装置,该显示器被设计 以将电压供应至一像素电极,以在一相对应于该像 素电极的部位中呈现一给定电压级,该装置包括: 一电压-发光性关系量测区段,用于测量介于当像 素电压是固定値之像素电压与该显示器范围外一 相对应于该像素电极之位置之发光性之间的一关 系; 一电压变化量测区段,用于参考该电压-发光性关 系量测区段中侦测结果,依据一相对应于该像素电 极之位置之发光性变化,从给定电压计算该像素电 极之像素电压的一变化量,其中当使用给定电压充 电该像素电极时会发生该发光性变化;以及 一寄生电容量计算区段,用于依据该变化量来计算 一像素附随的寄生电容量。 7.如申请专利范围第6项之用以检查一显示器之装 置, 其中,该电压-发光性关系量测区段分别测量发光 性,在此情况下会将互异的复数种电压供应至该像 素电极以找出一介于该电压与该发光性之间关系 呈现线性的区域。 8.如申请专利范围第6项之用以检查一显示器之装 置, 其中该电压-发光性关系量测区段将相对于该发光 性的该像素电压储存至一储存区段中;以及 该电压变化测量区段参考储存于该储存区段中之 介于该电压与该发光性之间的该关系。 9.如申请专利范围第6项之用以检查一显示器之装 置, 其中该开关元件被建构,以控制将该给定电压供应 至该像素电极; 该显示器检查装置包括一扫描信号供应器,用于供 应一用以控制该开关元件之ON/OFF(开/关)操作的扫 描信号;以及 该扫描信号供应器将该扫描信号构成为一由复数 种互异电压所组成的信号,其中一电压范围系介于 将该开关元件完全转变成一ON(开启)状态的电压与 将该开关元件完全转变成一OFF(关闭)状态的电压 之间。 10.如申请专利范围第9项之用以检查一显示器之装 置, 其中该寄生电容量计算区段依据得自介于该扫描 信号之该等复数种电压与该像素电极从该给定电 压开始变化量之间一关系中具有直线性的一部份, 计算该开关元件之闸极-源极寄生电容量相对于一 像素总电容量的比率。 11.一种用以检查显示器之方法,该方法包括下列步 骤: (A)调查介于供应至一像素电极的电压与一显示器 中之一部位的发光性之间的一关系,该部位相对应 于该像素电极; (B)使用给定电压充电该像素电极; (C)侦测该显示器的发光性,该发光性相对应于在该 步骤(B)中充电的该像素电极; (D)依据介于该发光性与该电压之间的该关系,从在 该步骤(C)中侦测的该发光性来评估该像素电极的 实际电压,该关系系在该步骤(A)中调查得知;以及 (E)从一介于该步骤(B)中供应的该给定电压与该步 骤(D)中评估的该电压之间的电压差,评估一像素附 随之寄生电容量相对于该像素总电容量的比率。 12.如申请专利范围第11项之用以检查一显示器之 方法, 其中会依据一开关元件的ON/OFF(开/关)操作来处理 该步骤(B)中该充电的该像素电极的判断,该开关元 件系由一由复数个位准互异之矩形脉波所组成的 一扫描信号控制。 13.如申请专利范围第12项之用以检查一显示器之 方法, 其中一由位准逐渐改变之该矩形脉波之一阵列所 组成的一波形被当作该扫描信号。 14.一种用以检查寄生电容量之方法,其中该寄生电 容量系介于一配置在一显示器一面板内之像素电 极与配置在该像素电极四周之一扫描线和一信号 线之任一线路之间,该方法包括: 步骤(A),以互相独立方式控制要供应至该扫描线及 该信号线的电压,该扫描线及该信号线被配置在该 像素电极四周,以及在控制该电压情况下,测量该 显示器中一相对应于该像素电极之部位中的发光 性变化;以及 步骤(B),调查一存在于该像素电极与该扫描线和该 信号线之任一线路间之寄生电容量相对于总电容 量的比率。 15.如申请专利范围第14项之用以检查寄生电容量 之方法,其中该步骤(A)之后执行的该步骤(B)被递回 数次。 16.如申请专利范围第14项之用以检查寄生电容量 之方法, 其中一可调查介于该像素电极和该信号线间之该 寄生电容量相对于该总电容量的比率,其方式为在 一使用给定电压充电该像素电极的状态中,在改变 供应至该信号线之电压的情况下来测量该发光性 变化。 17.如申请专利范围第14项之用以检查寄生电容量 之方法, 其中在储存电容量系形成于该像素电极之一部份 与另一电极之间的情况下,可调查该储存电容量相 对于该总电容量的该比率,其方式为在一使用给定 电压充电该像素电极的状态中,在改变供应至该另 一电极之电压的情况下来测量该发光性变化。 18.如申请专利范围第14项之用以检查寄生电容量 之方法,其中在一供应至扫描线与信号线之任一线 路的电压是固定电压状态中测量该发光性变化,该 等扫描线与该等信号线不是应控制所供应电压的 该扫描线与该信号线。 图式简单说明: 图1显示根据本发明一项具体实施例之显示器检查 装置的原理图。 图2显示图1所示之显示器检查装置所要检查之液 晶单元基板之主要部份的同等电路图。 图3显示图1所示之显示器检查装置中之控制单元 之详细建构的方块周。 图4显示本发明显示器检查方法原理的图式,这是 供应至液晶单元基板之信号实例的波形图。 图5显示本发明显示器检查方法原理的图式,图式 中包括用于呈现当充电像素电极时与相对应像素 相关之部位中之透射光强度变化的图式(上半部), 以及在此情况下所供应之扫描信号与显示信号的 波形图(下半部)。 图6显示根据本发明显示器检查方法之用于测量介 于像素电压与透射光强度之间关系之程序的流程 图。 图7显示图6之步骤S9中所制作之介于像素电压(横 座标轴)与透射光电压(纵座标轴)之间关系的图式 。 图8显示图6之步骤S11中所制作之用于呈现介于透 射光电压与像素电压之间关系之资料表的原理图 。 图9显示本发明显示器检查方法程序的流程图,用 于计算像素附随之寄生电容量或储存电容量相对 于像素总电容量的比率。 图10显示用于解说图9所示之程序细节的图式,其中 包括:以图表呈现步骤S17及S19测量结果的资料表( 下半部);用于呈现步骤S22中使用之介于透射光电 压与像素电压之间关系的图式(左上部);以及用于 呈现步骤S23至S25中使用之介于测量条件变化量与 像素电压变化量之间关系的图式(右上部)。 图11显示在依据图9所示之程序测量闸极-源极寄生 电容量比率之后,供应至液晶单元基板之信号之实 例的波形图。 图12显示在依据图9所示之程序测量信号线-像素电 极寄生电容量比率之后,供应至液晶单元基板之信 号之实例的波形图。 图13显示在依据图9所示之程序测量储存电容量比 率之后,供应至液晶单元基板之信号之实例的波形 图。 图14显示在依据图9所示之程序测量闸极-源极寄生 电容量比率之后,供应至液晶单元基板之信号之另 一实例的波形图。 |
