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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur geometrischen Vermessung eines Materialbands (2), wobei das Materialband (2) eine Längsrichtung vorgibt, wobei mittels einer ersten Messeinrichtung mit mindestens einer Strahlungsquelle (6) und mit mindestens einem Detektor (8) die Banddicke des Materialbands (2) ermittelt wird, wobei hierfür die Strahlung (10) der Strahlungsquelle (6) das Materialband (2) an mindestens einem im Materialband (2) angeordneten Messpunkt (12) durchdringt und die resultierende Abschwächung der Intensität der Strahlung (10) von dem korrespondierenden Detektor (8) ermittelt wird. Es wird vorgeschlagen, dass mittels einer zweiten Messeinrichtung die Querkontur des Materialbands (2) ermittelt wird. Dabei erfolgen die Messung der Banddicke und der Querkontur an der gleichen Stelle am Materialband. Die Messwerte der Dickenmessung werden mit den Messwerten der Querkontur korrigiert. DOLLAR A Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens.
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