Integrierter Speicher mit redundanten Einheiten von Speicherzellen und Verfahren zum Test eines integrierten Speichers

摘要

Ein integrierter Speicher weist einzeln adressierbare normale und redundante Einheiten (WL, RWL) von Speicherzellen (RMC) auf. Eine Speichereinheit (2) dient zum Speichern einer Adresse einer der normalen Einheiten (WL) in einem Normalbetrieb, die durch eine der redundanten Einheiten (RWL) zu ersetzen ist. Eine Vergleichseinheit (3) vergleicht eine auf einem Adreßbus (7) anliegende Adresse (ADR) mit einer in der Speichereinheit (2) gespeicherten Adresse und aktiviert eine der redundanten Einheiten (RWL) bei erkannter Übereinstimmung. Der Speicher weist weiter eine durch ein Testmodussignal (TM) aktivierbare Testschaltung (5) auf zum Rücksetzen der Speichereinheit (2) in einen Ausgangszustand und zum Speichern einer Adresse einer der redundanten Einheiten (RWL) in der Speichereinheit (2) für ein nachfolgendes Beschreiben dieser redundanten Einheit mit einem Identifizierungscode. Damit ist eine Analyse der Topologie-Sensitivität eines Fehlermechanismus auch zu einem späteren Stadium möglich, in dem Testergebnisse von Funktionstests im Zuge des Herstellungsprozesses eines Speichers nicht mehr verfügbar sind.