发明名称 |
可以识别表里的矩形氮化物半导体基片 |
摘要 |
本发明涉及可以识别表里的矩形氮化物半导体基片。已有的GaN晶片表面是镜面,里面是粗糙面,用肉眼就能看到面粗糙度的不同从而区别表面和里面。当里面未加利用和保护时恐怕会附着粒子,也恐怕也会使弯曲变大,发生裂缝,发生破裂等。希望不用粗糙度的不同也能够区别氮化物半导体矩形基片的表里。为了区别表里在矩形GaN基片的两个角部设置按顺时钟旋转地以长短顺序排列的切除缺口,在一个角部设置形成角度5°~40°的一个切除缺口,或者使表面一侧和里面一侧的面去除量不同,或者通过写入文字来区别表里。因为能够使里面更平滑使它的状态与表面近似,所以减少粒子的附着,既能减少弯曲,也能减少裂缝碎片等的发生。 |
申请公布号 |
CN1534735A |
申请公布日期 |
2004.10.06 |
申请号 |
CN200410002205.X |
申请日期 |
2004.01.15 |
申请人 |
住友电气工业株式会社 |
发明人 |
口山雅博;平野哲也 |
分类号 |
H01L21/304;H01L21/02;H01L23/544;C30B29/38 |
主分类号 |
H01L21/304 |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
罗亚川 |
主权项 |
1.可以识别表里的矩形氮化物半导体基片,其特征是:它是持有(0001)表面而将(11-20)面和(1-100)面作为侧边的矩形,将(11-20)面作为基准面,在它的对边的2个顶点上从表面看时按顺时钟旋转的顺序附着长的切除缺口和短的切除缺口。 |
地址 |
日本大阪府 |