摘要 |
所述电路结构包括具有可变电容的测量用电容器(K<SUB>M1</SUB>)、基准电容器(K<SUB>Ref1</SUB>)和缓冲放大器(OV<SUB>1</SUB>),所述测量用电容器(K<SUB>M1</SUB>)借助于待检测的物理被测量(p)来设定。缓冲放大器(OV<SUB>1</SUB>)的输入至少暂时地与测量用电容器(K<SUB>M1</SUB>)耦合以致所述缓冲放大器(OV<SUB>1</SUB>)的输出提供基本上与在测量用电容器(K<SUB>M1</SUB>)上存在的测量电压成比例的信号电压。在每一测量周期开始时,测量用电容器(K<SUB>M1</SUB>)被放电至预先决定的残余电荷,而所述基准电容器(K<SUB>Ref1</SUB>)被充电到预先决定的基准电荷。然后,所述基准电荷被尽可能完全地从所述基准电容器(K<SUB>Ref1</SUB>)传输到所述测量用电容器(K<SUB>M1</SUB>)。为此目的,缓冲放大器(OV<SUB>1</SUB>)的输入和输出在工作期间经由所述第一基准电容器(K<SUB>Ref1</SUB>)被暂时地彼此耦合。所述电路结构从而供应取决于测量用电容器(K<SUB>M1</SUB>)的电容的倒数的信号电压,此外,该电路结构具有差不多独立于所述测量用电容器(K<SUB>M1</SUB>)的瞬间电容的电流消耗。 |