发明名称 包含扫描测试电路之积体电路装置以及其测试方法
摘要 一种积体电路装置包括:一核心方块,具有复数输入埠,复数输出埠与一向量输入端。该核心方块回应于该输入埠之输出资料而产生核心内部资料。该核心方块在扫描测试期间系输出该核心内部资料,以及选择性回应于该核心内部资料或从该向量输入端输入之测试向量序列资料而产生核心输出资料。一输入侧副逻辑电路单元接受动态模拟测试及耦合至该核心方块之该输入埠。该输入侧副逻辑电路单元回应于输入至该输入侧副逻辑电路单元之资料而产生该些输入埠之副资料。一多工器(MUX)单元位于该核心方块与该输入侧副逻辑电路单元之间,回应于一MUX控制信号而选择性提供该副资料或该输出资料至该核心方块之该输入埠。
申请公布号 TW200419164 申请公布日期 2004.10.01
申请号 TW092133128 申请日期 2003.11.26
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 郑胜在;金容天
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 韩国