发明名称 睫毛膏之选定方法、睫毛膏之选定系统及睫毛膏之谘询表
摘要 本发明系可使销售员于店头一面对顾客进行谘询一面进行睫毛膏之选定时,恰当且迅速地选定顾客满意之睫毛膏。睫毛膏之选定方法具有一测量顾客睫毛状态之第1测量步骤及一根据由第1测量步骤得到之测量结果来选定睫毛膏之选定步骤。又,第1测量步骤与选定步骤间更具有一掌握顾客对睫毛之希望之掌握步骤,且,选定步骤可根据由第1测量步骤得到之测量结果及由掌握步骤得到之顾客希望来选定睫毛膏。
申请公布号 TWI221404 申请公布日期 2004.10.01
申请号 TW090132229 申请日期 2001.12.25
申请人 资生堂股份有限公司 发明人 高桥俊;诸星文江;高桥秀企
分类号 A45D44/00 主分类号 A45D44/00
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路三段二四八号七楼;陈文郎 台北市松山区南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种睫毛膏之选定方法,包含有:一第1测量步骤,系用以测量顾客之睫毛状态者;一掌握步骤,用以掌握顾客对睫毛之希望;及一选定步骤,系可根据由前述前述第1测量步骤得到之测量结果来选定睫毛膏者。2.如申请专利范围第1项的睫毛膏之选定方法,其系于前述第1测量步骤中以一测量机器来测量顾客之睫毛状态。3.如申请专利范围第1或2项的睫毛膏之选定方法,其中再实施一第2测量步骤,于将经前述选定步骤选定之睫毛膏涂布于顾客之睫毛后,以测量机器测量顾客之睫毛状态。4.如申请专利范围第3项的睫毛膏之选定方法,其系于前述第1测量步骤及第2测量步骤测量睫毛状态时,以一拍摄装置拍摄前述睫毛,并根据拍摄好之影像来测量前述睫毛之状态。5.如申请专利范围第1项的睫毛膏之选定方法,其中前述第1测量步骤系具有:一影像取得步骤,系用以取得显示前述睫毛状态之经2进制化之2进制影像者;一面积算出步骤,系根据前述2进制影像算出前述睫毛之面积者;及一根数算出步骤,系根据前述2进制影像算出前述睫毛之根数者。6.如申请专利范围第5项的睫毛膏之选定方法,其中前述第1测量步骤系具有:第一分类步骤,系根据前述面积算出步骤所算出之前述面积将前述睫毛之浓淡分类为第一分类资讯者;及第二分类步骤,系根据前述根数算出步骤所算出之前述面积将前述睫毛之量分类为第二分类资讯者。7.如申请专利范围第6项的睫毛膏之选定方法,其中前述选定步骤系根据前述第一分类资讯及第二分类资讯之至少其中一者,选定对应前述掌握步骤所掌握之前述顾客希望之睫毛状态的1个以上之睫毛。8.一种睫毛膏之选定系统,系用以选定一实现顾客所希望之睫毛状态之睫毛膏者,包含有;一拍摄装置,系可拍摄涂布前述睫毛膏前之睫毛及涂布前述睫毛膏后之睫毛者;一测量机构,系可根据由前述拍摄装置拍摄到之影像来定量测量拍摄到之睫毛之睫毛状态者;一资料库,系用以储存睫毛膏资讯者,而该睫毛膏资讯系有关每次涂布睫毛膏前之睫毛状态与涂布后之睫毛状态间之对应关系者;一输入装置,系用以输入前述顾客所希望之睫毛状态者;一检索机构,系可根据由前述测量机构得到的涂布睫毛膏前之前述顾客睫毛状态及由前述输入装置输入的前述顾客所希望之睫毛状态,自前述资料库检索对应前述顾客希望之睫毛膏者;及一显示机构,系至少可显示由前述拍摄装置拍摄到之顾客睫毛影像及由前述检索机构检索到之睫毛膏者。9.如申请专利范围第8项的睫毛膏之选定系统,其系更设有一分类机构,而该分类机构可依一预定体系将涂布由前述测量机构测得之前述睫毛膏前之前述顾客睫毛状态加以分类;且,将储存于前述资料库之睫毛膏资讯依每一分类结果设为睫毛膏与涂布后之睫毛状态之关联资讯。10.一种睫毛膏谘询表,系可将复数之素睫毛状态与对每一素睫毛状态涂布复数预定睫毛膏后之睫毛状态显示为图者。图式简单说明:第1图系本发明其中一实施例之睫毛膏选定系统之构成图。第2图系显示运用本发明第1实施例之睫毛膏选定方法之睫毛膏选定处理之流程图。第3图系显示涂布前之睫毛状态之测量处理之流程图。第4图系显顾客希望资讯之输入处理之流程图。第5图系显示睫毛膏选定处理之流程图。第6图系显示涂布后之睫毛状态之测量处理之流程图。第7图系用以说明涂布睫毛膏前之睫毛状态分类之图。第8图系用以说明睫毛膏之选定处理之图。第9图系显示涂布睫毛膏前之睫毛之其中一例之图。第10图系显示涂布睫毛膏后之睫毛之其中一例之图。第11图系用以说明睫毛膏之选定处理中,睫毛状态之具体测量方法之图。第12图系将依每一素睫毛状态涂布复数预定睫毛膏后之睫毛状态显示为图之睫毛膏谘询表。第13图系显示卷翘角度之测量结果之柱状图。第14图系显示可获得对应睫毛状态之较佳涂布后睫毛状态之睫毛膏之睫毛类别睫毛膏图。
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