发明名称 待测元件测试系统及测试方法
摘要 一种待测元件测试系统及测试方法。首先,输出一具有测试输入讯号及预期输出讯号之预期测试图样。接着,压缩预期测试图样,并输出预期压缩图样而储存,预期压缩图样具有对应于预期输出讯号之预期压缩输出讯号。再者,解压缩预期压缩图样,并以测试输入讯号对待测元件进行测试。接着,接收待测元件所输出之实际输出讯号并压缩,然后输出实际压缩输出讯号而储存。最后,依实际压缩输出讯号与预期压缩输出讯号进行比对测试结果。
申请公布号 TW200419167 申请公布日期 2004.10.01
申请号 TW092105838 申请日期 2003.03.17
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 姚松柏;林悦农;林义隆;唐和明;李俊哲
分类号 G01R31/01;G01R31/26 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人 林素华
主权项
地址 高雄市楠梓区加工出口区经三路二十六号