| 发明名称 | 存储器模块的测试方法及执行该方法的设备 | ||
| 摘要 | 存储器模块的测试方法及用于执行该方法的设备，本发明提供了一种用于测试存储器模块(101)的设备，该设备包括具有至少一个数据锁存器(107)的测试器(106)；至少一个数据线(108)，经过该数据线将要测试的存储器模块(101)的存储器数据流(204)提供给所述测试器(106)；以及时钟线(110)，用于将同步信号提供给数据锁存器(107)，要测试的存储器模块(101)具有至少一个存储器时钟连接单元(103)；以及将输出的同步信号经时钟线(110)提供给测试器(106)的至少一个数据锁存器(107)。利用被读取的存储器数据流(204)测试要测试的存储器模块(101)，并且按照与内部存储器时钟(102)同步的方式对存储器数据流(204)进行采样。 | ||
| 申请公布号 | CN1532843A | 申请公布日期 | 2004.09.29 |
| 申请号 | CN200410028781.1 | 申请日期 | 2004.03.18 |
| 申请人 | 印芬龙科技股份有限公司 | 发明人 | 彼得·迈尔 |
| 分类号 | G11C29/00 | 主分类号 | G11C29/00 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 朱进桂 |
| 主权项 | 1.一种用于测试存储器模块(101)的设备，包括：a)具有至少一个数据锁存器(107)的测试器(106)；b)至少一个数据线(108)，经过该数据线将要测试的存储器模块(101)的存储器数据流(204)提供给所述测试器(106)，在所述数据锁存器(107)中，将提供的存储器数据流(204)与测试(106)中提供的测试数据流进行比较；c)时钟线(110)，用于将同步信号提供给数据锁存器(107)；其特征在于：d)要测试的存储器模块(101)具有至少一个存储器时钟连接单元(103)，所述存储器时钟连接单元输出作为同步信号的存储器模块(101)的内部存储器时钟(102)；以及e)将输出的同步信号经时钟线(110)提供给测试(106)的至少一个数据锁存器(107)，利用读出的存储器数据流(204)测试要测试的存储器模块(101)，并且按照与内部存储器时钟(102)同步的方式对存储器数据流(204)进行采样。 | ||
| 地址 | 联邦德国慕尼黑 | ||