发明名称 |
电容器结构及其制造方法 |
摘要 |
本发明的一个方案是半导体器件(20)中的电容器(94),具有金属镶嵌沟槽(22)中的下铜极板(30)、下极板上的阻挡层(56,180a)、阻挡层上的介质层(60)以及介质层上的上极板(96)。本发明的另一方案是半导体器件的电容器(294,394),具有相互隔开的两个下极板(230,231,330,331)、下极板上的介质层(260,360),以及覆盖并优选延伸出下极板的介质层上的上极板(296,396)。本发明还包括制造以上介绍电容器结构的方法。 |
申请公布号 |
CN1169222C |
申请公布日期 |
2004.09.29 |
申请号 |
CN01112231.5 |
申请日期 |
2001.03.30 |
申请人 |
国际商业机器公司 |
发明人 |
J·D·林奇;W·D·普赖塞;A·K·斯塔珀;S·A·斯唐格 |
分类号 |
H01L27/02;H01L21/70;H01L21/283 |
主分类号 |
H01L27/02 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
陈霁;陈景峻 |
主权项 |
1.一种半导体器件中的电容器,包括:a.具有沟槽的第一层;b.设置在所述沟槽内的下极板,所述下极板由导电材料制成;c.覆盖所述下极板的阻挡层;d.所述阻挡层上的介质层;以及e.所述介质层上的上极板,所述上极板由导电材料制成,其中所述下极板具有上表面,并且所述阻挡层为提供在所述上表面的金属合金。 |
地址 |
美国纽约州 |