发明名称 系统之验证装置及验证方法
摘要 本发明是针对系统LSI验证装置,其最主要特征为:经由模拟,那个验证项目被实际测试能以机械方式且又能确实地确认。其解决手段,例如用命令层次/模拟器25来验证测试程式23的结果与根据用事件(event)来表现有关动作模式的验证项目11之事件资讯,验证HDL13之功能模拟器17的结果用功能检验器29进行比较。当该结果一致时,用统合校验器31,以根据功能模拟器17的验证结果之事件资讯为依据,校验是否满足验证项目11之构成。
申请公布号 TWI221200 申请公布日期 2004.09.21
申请号 TW092107159 申请日期 2003.03.28
申请人 东芝股份有限公司 发明人 河边浩子;原正司;山崎到
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种系统之验证装置,至少具备有微处理器的系统之验证装置,其特征为,具备有:验证前述系统的测试程式之第1模拟器;根据用事件来表现有关前述系统的动作模式之验证项目的第1事件资讯,验证前述系统的功能之第2模拟器;将前述第2模拟器的验证结果与前述第1模拟器的验证结果作比较之比较手段;及经由前述比较手段,确认前述第1模拟器的验证结果与前述第2模拟器的验证结果一致时,以根据前述第2模拟器的验证结果之第2事件资讯及前述第1事件资讯为依据,校验是否满足前述验证项目之校验手段。2.如申请专利范围第1项的系统之验证装置,其中前述测试程式系用乱数所作成之不规则测试程式。3.如申请专利范围第1项的系统之验证装置,其中前述第1事件资讯载述有事件的顺序,或用以参照过去和将来的事件的时间界序列或条件等有关本系统的动作模式之事件的资讯之注释资料。4.如申请专利范围第1项的系统之验证装置,其中前述校证手段系进行前述验证项目的比对或前述系统的统合调查等。5.如申请专利范围第1项的系统之验证装置,其中进一步具备有:用来储存前述第1事件资讯之第1资料库;用来储存前述第1模拟器的验证结果之第2资料库;用来储存前述第2模拟器的验证结果之第3资料库;用来储存前述第2事件资讯之第4资料库;及,用来储存前述校验手段的校验结果之第5资料库。6.一种系统之验证方法,至少具备有微处理器的系统之验证方法,其特征为,具备:经由第1模拟器,验证前述系统用的测试程式的步骤;根据用事件表现有关前述系统的动作模式之验证项目的第1事件资讯,利用第2模拟器,验证前述系统的功能之步骤;经由比较手段,比较前述第2模拟器的验证结果与前述第1模拟器的验证结果之步骤;及,经由前述比较手段,确认前述第1模拟器的验证结果与前述第2模拟器的验证结果一致时,利用校验手段,以根据前述第2模拟器的验证结果之第2事件资讯和前述第1事件资讯为依据,校验是否满足前述验证项目之步骤。7.如申请专利范围第6项的系统之验证方法,其中前述测试程式为不规则测试程式,用乱数作成。8.如申请专利范围第6项的系统之验证方法,其中前述第1事件资讯载述有事件的顺序,或用以参照过去和将来的事件之时间界限序列或条件等有关本系统的动作模式之事件的资讯之注释资料。9.如申请专利范围第6项的系统之验证方法,其中校验是否满足前述验证项目之步骤,进行前述验证项目的比对或前述系统的统合调查。10.如申请专利范围第6项的系统之验证方法,其中进一步具备有:将前述第1事件资讯记忆到第1资料库之步骤;将前述第1模拟器的验证结果记忆到第2资料库之步骤;将前述第2模拟器的验证结果记忆到第3资料库之步骤;将前述第2事件资讯记忆到第4资料库之步骤;及,将前述校验手段的校验结果记忆到第5资料库之步骤。图式简单说明:第1图为表示本发明的一实施形态之系统LSI验证装置的基本构成之方块图。第2图为用来说明第1图中的系统LSI验证装置中验证方法所经过的处理流程之流程图。第3图为表示本发明之系统LSI的构成例之方块图。第4图为表示第3图的系统LSI中测试程式的命令管路处理之概念图。第5图为表示被储存在第1图中系统LSI验证装置的注释资料库之事件资料的一例图。第6图为表示任意的命令用先行命令div所生成之执行结果时,直到先行命令div生成执行结果为止用来验证必须使后续的命令延迟执行之运算法的一例之流程图。第7图为举例表示用MIPS(R)64的命令组来作成对应于第6图的流程图之测试程式情况之图。
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