追踪非依电性记忆体系统中最常抹除区块之技术

摘要

本发明系有关用以于非依电性记忆体系统实施磨损调匀之方法与装置。根据本发明之一态样，用以处理包括于记忆体系统之非依电性记忆体之元件之方法包括获得与数个抹除元件有关之抹除次数。包括于此等数个元件之每一元件具有指示元件已被抹除之次数之相关抹除次数。此方法亦包括将数个包括于此等数个元件之抹除元件分组为第一组，及将与此第一组有关之抹除次数储存于记忆体系统之记忆体构件。将此等数个元件分组为第一组通常包括选择包括于此等数个具有与此等数个元件有关之抹除次数之最高相关抹除次数的元件中之抹除元件。