发明名称 | 具放电路径及二进二出读取路径之高速平面记忆体单元结构 | ||
摘要 | 本发明系提供一种高速平面记忆体单元结构,系具有放电路径并在读取平面记忆体单元(FLATCELL)时,藉由控制读取记忆体单元的读取路径,达到两条路径选择电晶体记忆体单元及两条路径出电晶体记忆体单元输出的效果,进一步使本发明在外界电路读取时的电阻及电容效应降低,达到降低杂讯、减少耗能、提高频率响应及降低温度的效果。 | ||
申请公布号 | TW200418024 | 申请公布日期 | 2004.09.16 |
申请号 | TW092105560 | 申请日期 | 2003.03.14 |
申请人 | 义隆电子股份有限公司 | 发明人 | 唐春安;林子杰 |
分类号 | G11C11/21;G11C7/00 | 主分类号 | G11C11/21 |
代理机构 | 代理人 | 欧奉璋 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区创新一路十二号 |