| 发明名称 |
Verfahren und Halbleiterbauteil mit einer Einrichtung zur Bestimmung einer internen Spannung |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE10110626(B4) |
申请公布日期 |
2004.09.16 |
| 申请号 |
DE20011010626 |
申请日期 |
2001.03.06 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
SCHAFFROTH, THILO;SCHNEIDER, RALF |
| 分类号 |
G01R21/10;(IPC1-7):G01R31/28;G01R15/04;G01R19/165;G01R31/26;G11C29/00 |
主分类号 |
G01R21/10 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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