发明名称 链结记忆架构冗余
摘要 本发明系揭示一种改进之冗余计划以供链结之记忆体结构之用。该冗余计划包含以冗余单元作为记忆体链结之一部分。因此,一冗余单元系被用来修理链结内之失效单元。此举可消除传统链结结构在有一失效单元时必须更换整个记忆体区段之需求。
申请公布号 TWI220991 申请公布日期 2004.09.11
申请号 TW092108860 申请日期 2003.04.16
申请人 亿恒科技股份公司 发明人 诺贝尔特雷姆;汉斯-奥利佛约阿希姆;耶尔格沃夫法尔特;汤玛斯勒尔
分类号 G11C11/22 主分类号 G11C11/22
代理机构 代理人 蔡清福 台北市中正区忠孝东路一段一七六号九楼
主权项 1.一种积体电路,包含:x个第一记忆体胞元,其中x大于或等于2,且该第一记忆体胞元作为储存记忆体胞元;m个第二记忆体胞元,其中m等于或大于1,且该第二记忆体胞元作为冗余记忆体胞元,其中,一第二记忆体胞元用来修理失效之一第一记忆体胞元;以及该第一及第二单元在链结中成组。2.如申请专利范围第1项之积体电路,其中该记忆体胞元为铁电记忆体胞元。3.如申请专利范围第2项之积体电路,其中该x等于2t,t等于或大于1。4.如申请专利范围第1项之积体电路,其中该x等于2t,t等于或大于1。5.如申请专利范围第1项之积体电路,该链结之一第一端耦合至一位元线,一第二端耦合至一板线。6.如申请专利范围第5项之积体电路,其中该链结之该第一端经一选择电晶体耦合至位元线。7.如申请专利范围第6项之积体电路,尚包含;一第二记忆体链结,其具有一第一端,其系经一第二选择电晶体耦合至一第二位元线,及一第二端,其系耦合至第二板线,该第二记忆体链结包括x个第一记忆体胞元及m个第二记忆体胞元,由位元线及第二位元线所构成之一位元线对;第一及第二控制信号以控制号该第一及第二选择电晶体。8.如申请专利范围第7项之积体电路,更包含复数个位元线对以构成一记忆体区段。9.如申请专利范围第7项之积体电路,更包含一第三记忆体链结,其具有一第一端,经一第三选择电晶体耦合至该位元线,及一第二端,耦合至该板线;及一第四记忆体链结,其具有第一端经第四选择电晶体耦合至第二位元线,及一第二端耦合至第二板线,该第三及第四记忆体链结各包含y个第一记忆体胞元,其中y等于或大于1,及n个第二记忆体胞元,n等于或大于1。10.如申请专利范围第9项之积体电路,更包含复数个位元线对以构成一记忆体区段。11.如申请专利范围第9项之积体电路,更包含第三及第四控制信号用以控制该第三及第四选择电晶体。12.如申请专利范围第11项之积体电路,更包含复数个位元线对以构成一记忆体区段。13.如申请专利范围第9项之积体电路,其中之n=m及y=x。14.如申请专利范围第13项之积体电路,进一步包含第三及第四控制信号用以控制该第三及第四选择电晶体。15.如申请专利范围第14项之积体电路,更包含复数个位元线对以构成一记忆体区段。16.如申请专利范围第5项之积体电路,更包含一第二记忆体链结,其具有第一端耦合至第二位元线及第二端耦合至第二板线,该第二记忆体链结包括x个第一记忆体胞元及m个第二记忆体胞元,该位元线及第二位元线构成一位元线对。17.如申请专利范围第16项积体电路,更包含复数个位元线对以构成一记忆体区段。18.如申请专利范围第16项之积体电路,更包含:一第三记忆体链结具有一第一端,耦合至该位元线,及一第二端,耦合至该板线;一第四记忆体链结具有一第一端耦合至该第二位元线,及一第二端,耦合至该第二板线,该第三及第四记忆体链结各包含y个第一记忆体胞元,其中之y等于或大于1,及n个第二记忆体胞元,其中n等于或大于1。19.如申请专利范围第18项之积体电路,其中n=m及y=x。20.如申请专利范围第19项之积体电路,更包含复数个位元线对以构成一记忆体区段。图式简单说明:第1图显示安排在一传统链结结构中之一行记忆体胞元。第2图显示本发明一实施例之一行记忆体胞元。
地址 德国