测试系统使用的低抖动时钟

摘要

为待测试装置(DUT)产生测试信号，包括：产生主参考信号；根据该主参考信号，用微调技术产生测试模式信号；产生测试时钟信号，通过把该主参考信号作为输入提供给锁相环(PLL)，并控制该PLL内的一个或多个程序可控分频器，以调整该测试时钟信号，使之成为测试模式信号频率的倍数或约数，从而使该测试时钟信号与该测试模式信号相位匹配且频率相似；把该测试时钟信号加到DUT的时钟输入引脚；最后，把该测试模式信号加到DUT的数据引脚。当测试模式信号频率变化时，可以通过对程序可控分频器改编程序，调整测试时钟信号频率，以校准测试模式信号变化了的频率。

主权项

1.一种测试系统使用的信号发生设备，该设备包括：程序可控的周期微调测试模式发生器，用微调技术产生测试模式信号；和程序可控的锁相环时钟，用于输出测试时钟信号，该时钟信号与周期微调测试模式发生器产生的测试模式信号，频率相似且相位匹配。