| 发明名称 |
FUNCTIONAL BLOCK FOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTERGRATED CIRCUIT, INSPECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND DESIGNING METHOD THEREFOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0969289(A4) |
申请公布日期 |
2004.09.08 |
| 申请号 |
EP19980909824 |
申请日期 |
1998.03.20 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. |
发明人 |
OHTA, MITSUYASU;TAKEOKA, SADAMI;HIRAOKA, TOSHIHIRO |
| 分类号 |
G06F11/22;H01L27/02;(IPC1-7):G01R31/318;H01L21/822;H01L27/04;G01R31/318 |
主分类号 |
G06F11/22 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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