58探针治具结构改良

摘要

一种58探针治具结构改良，包括上、下对应之治具；其特征在于：该上、下治具由底层到顶层依序分别设置有两种不同直径的支柱，该治具由底层至顶层亦分别设置有四种不同长度的探针。使用上，藉由增加顶层测试板的厚度，并配合在该治具底层到顶层间设置不同直径的支柱，而能增加治具的强度防止该治具的变形，所述不同长度的探针则能因应不同角度针插治具时而产生的斜率，使该探针在治具顶面的长度皆能相等而避免压测时与印刷电路板接触不良，发生假(open)断路的情形。

主权项

1.一种58探针治具结构改良,包括上、下对应之治具;其特征在于:该上、下治具由底层到顶层依序分别设置有两种不同直径的支柱,该治具由底层至顶层亦分别设置有四种不同长度的探针。2.如申请专利范围第1项所述之58探针治具结构改良,其中,该支柱为直径6mm的铜支柱。3.如申请专利范围第1项所述之58探针治具结构改良,其中,该支柱为直径2mm的铁支柱。4.如申请专利范围第1项所述之58探针治具结构改良,其中,该探针的长度分别为58mm、59mm、60mm与61mm。5.如申请专利范围第1项所述之58探针治具结构改良,其中,该上、下治具顶层为厚度4mm的测试板。图式简单说明:第一图为本创作的立体组合图。第二图为本创作的剖视动作示意图(一)。第三图为本创作的剖视动作示意图(二)。第四图为本创作的长短针对照表。第五图为本创作的套板立体图。第六图为习用的剖视动作示意图。