发明名称 半导体制造装置用陶瓷承受器
摘要 本发明系关于一半导体制造装置用陶瓷承受器,其于晶圆加热期间无裂痕发生,系能抑制被置于该陶瓷承受器上其来自于晶圆周围表面之热辐射,以强化该晶圆面中之恒温品质。一于陶瓷基板(2a,2b)面或内部中含有一电阻加热元件(3)之半导体制造装置用陶瓷承受器(1),系具有一能容纳地承载一晶圆之凹口所组成之晶圆袋(5)。该晶圆袋(5)之周围内表面及底面形成之角度系超过90°及170°或更小,而/或其中袋(5)之周围内表面与底面衔接处之底部周缘曲率为0.1毫米或更大。可另使一电浆电极被配置于该陶瓷承受器(1)之陶瓷基板(2a,2b)面或内部中。
申请公布号 TW200416879 申请公布日期 2004.09.01
申请号 TW092129586 申请日期 2003.10.24
申请人 住友电气工业股份有限公司 发明人 加智义文;柊平启;仲田博彦
分类号 H01L21/31;H05B6/42 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本