发明名称 |
TEST MACHINE FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT WITH A COMPARATOR |
摘要 |
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申请公布号 |
EP1451598(A2) |
申请公布日期 |
2004.09.01 |
申请号 |
EP20020781578 |
申请日期 |
2002.11.20 |
申请人 |
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. |
发明人 |
CIRKEL, CORNELIS, O. |
分类号 |
G01R31/316;G01R31/27;G01R31/28;H03K5/08;(IPC1-7):G01R31/27 |
主分类号 |
G01R31/316 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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