延迟故障检查质量评价方法

摘要

发明提供了一种延迟故障检查质量评价方法，可以解决在先技术中由于难于对不能测试的延迟故障全部进行计算，故在计算延迟故障用的检查系列的故障检出率时，不能进行不将不能测试的故障数量排除在外的方式进行故障检出率的计算，由此故障检出率无法正确地反映测试的质量的问题。本发明通过选择一部分延迟故障，对已选择出的延迟故障中不能测试的延迟故障数量进行分析的方式，对全部延迟故障中包含的不能测试的故障数量进行推定。采用这些值，正确地计算出能反映测试质量的故障检出率。

主权项

1.一种延迟故障检查质量评价方法，该方法包括对半导体集成电路定义延迟故障的延迟故障定义步骤；选择通过所述延迟故障定义步骤定义出的延迟故障中的一部分延迟故障的延迟故障选择步骤；判断通过所述延迟故障选择步骤选择出的各个延迟故障是否可测试的第1可否测试判断步骤；以及采用通过所述可否测试判断步骤判定为不能测试的延迟故障数量来算出延迟故障检出率的延迟故障检出率计算步骤。