发明名称 Intra-cell mask alignment for improved overlay
摘要 A method for intra-cell alignment of a substrate and mask comprises providing a substrate comprising an exposed photosensitive material, providing a phase-shift mask, and aligning the phase-shift mask to an intra-cell structure on the substrate.
申请公布号 US6784070(B2) 申请公布日期 2004.08.31
申请号 US20020309291 申请日期 2002.12.03
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 CARPI ENIO L.;LIEGL BERNHARD
分类号 G03F9/00;(IPC1-7):H01L21/76 主分类号 G03F9/00
代理机构 代理人
主权项
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