发明名称 |
集成电路中的集成测试电路 |
摘要 |
本案系有关于一种在集成电路中之集成测试装置,用以测试复数内电压,一切换装置被提供,用以选择根据为了测试目的之选择信号来选择其中一内电压;一比较器装置被提供,其系依据该选择的内电压,以比较一量测电压与一外部指定的参考电压,以及由于该比较而输出一错误信号。 |
申请公布号 |
CN1523368A |
申请公布日期 |
2004.08.25 |
申请号 |
CN200410005441.7 |
申请日期 |
2004.02.18 |
申请人 |
因芬尼昂技术股份公司 |
发明人 |
G·弗兰科维斯基;R·凯塞 |
分类号 |
G01R31/28;G01R19/165;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
程天正;梁永 |
主权项 |
1.一种在集成电路(1)中之集成测试电路,用以测试复数内电压(V0、V1、V2、…Vn),一交换装置(4),其系用以根据为了测试目的之一选择信号来选择其中一该内电压(V0、V1、V2、…Vn)而被提供,一比较器装置(5),其系依据该选择的内电压(V0、V1、V2、…Vn),以比较一量测电压与一外部指定的参考电压(Vref),并且用以输出由于该比较之一错误信号。 |
地址 |
联邦德国慕尼黑 |