发明名称 集成电路中的集成测试电路
摘要 本案系有关于一种在集成电路中之集成测试装置,用以测试复数内电压,一切换装置被提供,用以选择根据为了测试目的之选择信号来选择其中一内电压;一比较器装置被提供,其系依据该选择的内电压,以比较一量测电压与一外部指定的参考电压,以及由于该比较而输出一错误信号。
申请公布号 CN1523368A 申请公布日期 2004.08.25
申请号 CN200410005441.7 申请日期 2004.02.18
申请人 因芬尼昂技术股份公司 发明人 G·弗兰科维斯基;R·凯塞
分类号 G01R31/28;G01R19/165;H01L21/66 主分类号 G01R31/28
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 程天正;梁永
主权项 1.一种在集成电路(1)中之集成测试电路,用以测试复数内电压(V0、V1、V2、…Vn),一交换装置(4),其系用以根据为了测试目的之一选择信号来选择其中一该内电压(V0、V1、V2、…Vn)而被提供,一比较器装置(5),其系依据该选择的内电压(V0、V1、V2、…Vn),以比较一量测电压与一外部指定的参考电压(Vref),并且用以输出由于该比较之一错误信号。
地址 联邦德国慕尼黑