| 发明名称 |
Automatic scan-based testing of complex integrated circuits |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1302776(B1) |
申请公布日期 |
2004.08.25 |
| 申请号 |
EP20010402617 |
申请日期 |
2001.10.10 |
| 申请人 |
MOTOROLA, INC. |
发明人 |
BAILLIET, BENOIT ANTOINE;LECAIN, DIDIER |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;(IPC1-7):G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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