| 主权项 |
1.一种侦测碟片的方法,其使用由形成于该碟片之一纪录表面上之烧录点所不规则反射之光所产生之讯号以侦测该碟片,该方法包括下列步骤:(a)侦测由不规则反射而产生之一第一讯号之峰对峰値与由不规则反射而产生之一第二讯号之峰对峰値之一比率;以及(b)根据该第一与第二讯号之量値与侦测到之该比率来侦测该碟片。2.如申请专利范围第1项所述之侦测碟片的方法,其中步骤(b)包括下列步骤:(b-1)将该第一与第二讯号之量値与一第一参考値比较;以及(b-2)根据步骤(b-1)之比较结果,将侦测所得之该比率与一第二参考値比较以侦测该碟片。3.如申请专利范围第2项所述之侦测碟片的方法,其中在步骤(b-1)中,当该第一与第二讯号之一的量値超过该第一参考値的时候,则该碟片在初始的时候会被侦测为单面碟片,而当该第一与第二讯号的量値不超过该第一参考値的时候,该碟片在初始的时候会被侦测为双面碟片。4.如申请专利范围第3项所述之侦测碟片的方法,其中在步骤(b-2)中,假如该碟片因为该第一与第二讯号之一的量値超过该第一参考値而在初始的时候被侦测为单面碟片,则侦测到的该比率会被用来与该第二参考値相比较,而若侦测到的该比率至少为该第二参考値,则该碟片会被侦测为单面碟片,反之,若侦测到的该比率小于该第二参考値,则该碟片会被侦测为双面碟片。5.如申请专利范围第3项所述之侦测碟片的方法,其中在步骤(b-2)中,假如该碟片因为该第一与第二讯号的量値不超过该第一参考値而在初始的时候被侦测为双面碟片,则侦测到的该比率会被用来与该第二参考値相比较,而若侦测到的该比率至少为该第二参考値,则该碟片会被侦测为可重复写入碟片,反之,若侦测到的该比率小于该第二参考値,则该碟片会被侦测为双面碟片。图式简单说明:第1A图与第1B图所绘示的是用于侦测碟片之传统方法的流程图;第2A图到第2F图绘示的是用以解释显示于第1A图与第1B图中之方法的波形图;以及第3图绘示的是根据本发明之一实施例之侦测碟片之方法之流程图。 |
