发明名称 Circuit and method for testing a ferroelectric memory device
摘要
申请公布号 EP1333446(A3) 申请公布日期 2004.08.18
申请号 EP20030250538 申请日期 2003.01.29
申请人 STMICROELECTRONICS, INC. 发明人 MCCLURE, DAVID C.
分类号 G11C11/22;G11C29/12;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C11/22
代理机构 代理人
主权项
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