将积体电路研发技术方格化以处理测试器资料之方法

摘要

本发明提供一种处理测试器资料之方法(400)。决定该测试器资料中资料之群集的数量以决定资料群集的数量(402)。自该测试器资料中决定用于绘制该资料群集之基准(404)。于复数个方格图上绘制该资料群集以形成具有方格化之方格图之方格化绘图(406)。