发明名称 侦测磁资料储存装置中可能发生之热松弛之方法及装置
摘要 本发明揭示一种在资料储存装置中写入或图案化具有小于实际资料储存所用的最小尺寸之一磁容量范围的参考磁元件或位元。该等参考元件或位元具有适当尺度,使其磁化松弛时间短于该等储存元件或位元之最小期望松弛时间。对参考元件或位元之磁化的探测,使该等储存元件或位元中可能发生之磁化松弛可得以侦测,因此发出必须重新写入(重新磁化)该等储存元件或位元之信号。此方案可以组织在列、行或区段上。
申请公布号 TW200415590 申请公布日期 2004.08.16
申请号 TW092133030 申请日期 2003.11.25
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 盖文 尼可拉司 菲立普;汉思 马克 伯特 包夫
分类号 G11B5/00 主分类号 G11B5/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 荷兰