发明名称 保护薄膜黏着偏光板之缺陷检查方法
摘要 〔课题〕本发明系提供一种可易于判断保护薄膜是否缺陷之保护薄膜黏着偏光板之缺陷检查方法。〔解决手段〕本发明之特征系于偏光板之两面,黏着保护薄膜之保护薄膜黏着偏光板,及将检查用偏光板于光源,和照相机之间配置着交叉偏光镜,而藉由以照相机摄影所得到较暗之画像中有无明亮部分,于检查保护薄膜黏着偏光板之缺陷方法之中,于较暗画像中周期性或是连续性所检查之明亮部分,来判定藉由保护薄膜之缺陷所产生缺陷。
申请公布号 TW200415348 申请公布日期 2004.08.16
申请号 TW092134221 申请日期 2003.12.04
申请人 住友化学工业股份有限公司 发明人 铃木孝志;筱塚淳彦
分类号 G01N21/88 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本