| 摘要 |
一种用于导出相关于在以DSP为基础的混合信号系统中之一个元件的测试参数之系统及装置系被提出。一个测试信号系被接收到。一个从该测试信号导出的信号系被取样以产生复数个取样的信号，该些取样的信号系由从该测试信号导出的信号之时间交错的样本所构成。每个取样的信号系独立地被处理以导出相关于在以DSP为基础的混合信号系统中之一个特定的元件之一个别的测试参数。相关于该复数个取样的信号之测试参数系接着被结合以导出一个组合的测试参数。藉由时间交错该些信号的取样，该测试参数的量测方差可被改善。或者是，从该测试信号导出的信号系被取样以产生一个第一信号以及一个第二信号，该等信号是由实质上同时所取的样本所构成。一个处理单元系处理该第一信号与第二信号以导出相关于在该以DSP为基础的混合信号系统中之一个特定的元件之一个测试参数。该信号之同时的取样系使得来自该量测出的测试参数之偏向误差得以降低。 |
