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发明名称 SYSTEM AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 EP1299739(B1) 申请公布日期 2004.08.11
申请号 EP20010950619 申请日期 2001.06.28
申请人 CADENCE DESIGN SYSTEMS, INC. 发明人 COOKE, LAURENCE, H.;LENNARD, CHRISTOPHER, K.
分类号 G01R31/3183;G06F9/45;G06F17/50;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/318 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
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