| 发明名称 | 具有X－射线荧光检查功能的X－射线诊断设备 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种具有X－射线荧光透视检查功能的X－射线诊断设备和X－射线荧光检查法，其中设备包括发生器、检测器、积分器、比较器和控制器。在该设备和方法中，间歇地产生用于X－射线荧光检查的第一X－射线。检测透射过X－射线荧光检查的对象的透射X－射线。在第一X－射线的间歇产生的周期中对获得的X－射线透射数据进行积分并将其与基准值进行比较。在间歇产生的周期中响应积分的X－射线透射数据达到基准值，停止第一X－射线的间歇产生。 | ||
| 申请公布号 | CN1518951A | 申请公布日期 | 2004.08.11 |
| 申请号 | CN03101865.3 | 申请日期 | 2003.01.20 |
| 申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 小野正彦 |
| 分类号 | A61B6/00 | 主分类号 | A61B6/00 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李德山 |
| 主权项 | 1.一种X-射线荧光检查设备，包括：间歇地产生用于X-射线荧光检查的第一X-射线的发生器；检测透射过X-射线荧光检查的对象的第一X-射线的透射X-射线并输出X-射线透射数据的检测器；在第一X-射线的间歇产生的周期中对X-射线透射数据进行积分的积分器；将积分的X-射线透射数据与基准值进行比较的比较器；和在所说的间歇产生周期中响应达到基准值的积分的X-射线透射数据以停止发生器的控制器。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||