发明名称 Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung mit einem Kontaktkörper, der sich in Richtung einer Bitleitung zu einem Kontaktspeicherknotenpunkt erstreckt
摘要 Es ist ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung mit Kontaktkörpern offenbart, die sich in der Richtung der Bitleitungen erstrecken, um einen Kontakt mit Speicherknotenpunkten zu bilden, wonach Öffnungen vom Bandtyp durch selektives Ätzen einer Isolierschicht, welche die Bitleitungen bedeckt, ausgebildet werden. Die Bandtypöffnungen erstrecken sich in einer Längsrichtung der Gateleitungen, um erste Kontaktflecke freizulegen, und besitzen Abschnitte, die in einer Längsrichtung der Bitleitungen vorragen. Das Verfahren umfaßt auch die Ausbildung einer leitenden Schicht auf der Isolierschicht, welche die Bandtypöffnungen füllt und die elektrisch mit den ersten Kontaktflecken verbunden sind. Die leitende Schicht wird dann in ein Muster gebracht, um die leitende Schicht in individuelle Speicherknotenpunkt-Kontaktkörper aufzutrennen, die sich in einer Längsrichtung der Bitleitungen erstrecken. Die Speicherknotenpunkte werden dann auf den Speicherknotenpunkt-Kontaktkörpern ausgebildet.
申请公布号 DE102004002223(A1) 申请公布日期 2004.08.05
申请号 DE200410002223 申请日期 2004.01.15
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 PARK, JE-MIN;HWANG, YOO-SANG
分类号 H01L21/8242;H01L21/60;H01L27/02;H01L27/108;(IPC1-7):H01L21/824 主分类号 H01L21/8242
代理机构 代理人
主权项
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