发明名称 | 快闪记忆体的制造方法 | ||
摘要 | 一种快闪记忆体的制造方法,此方法系在基底上依序形成穿遂介电层与导体层,之后图案化此导体层,以形成浮置闸极(floatinggate),然后于此浮置闸极两侧的基底中形成源极/汲极区。接着,形成一闸间介电层,此闸间介电层之中包含一氧化层,该氧化层系以即时蒸气产生制程(In–situsteamgeneration,ISSG)形成在浮置闸极上。然后于闸间介电层上形成控制闸极(controlgate)。 | ||
申请公布号 | TW200414448 | 申请公布日期 | 2004.08.01 |
申请号 | TW092101556 | 申请日期 | 2003.01.24 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 郑培仁;韩宗廷;谢荣裕;姚俊敏 |
分类号 | H01L21/8247 | 主分类号 | H01L21/8247 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学园区力行路十六号 |