发明名称 快闪记忆体的制造方法
摘要 一种快闪记忆体的制造方法,此方法系在基底上依序形成穿遂介电层与导体层,之后图案化此导体层,以形成浮置闸极(floatinggate),然后于此浮置闸极两侧的基底中形成源极/汲极区。接着,形成一闸间介电层,此闸间介电层之中包含一氧化层,该氧化层系以即时蒸气产生制程(In–situsteamgeneration,ISSG)形成在浮置闸极上。然后于闸间介电层上形成控制闸极(controlgate)。
申请公布号 TW200414448 申请公布日期 2004.08.01
申请号 TW092101556 申请日期 2003.01.24
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 郑培仁;韩宗廷;谢荣裕;姚俊敏
分类号 H01L21/8247 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学园区力行路十六号