发明名称 利用镶嵌制程之磁性记忆装置及其制造方法
摘要 本发明之磁性记忆装置系具备:第一配线,其系在第一方向上延伸者;第一金属层,其系配置于前述第一配线之上方者;第一磁阻效应元件,其系配置于前述第一金属层上之特定区域中者;第一接点层,其系配置于前述第一磁阻效应元件上者;第二配线,其系在与前述第一方向不同之第二方向上延伸,配置于前述第一接点层上,且具有包覆前述第一接点层之上部的突出部者;及第一绝缘膜,其系埋设于前述第一金属层、前述第一磁阻效应元件、前述第一接点层及前述第二配线之周围,且具有与前述第二配线之表面相同高度之表面者。
申请公布号 TW200414499 申请公布日期 2004.08.01
申请号 TW092129170 申请日期 2003.10.21
申请人 东芝股份有限公司 发明人 中岛健太郎
分类号 H01L27/00 主分类号 H01L27/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本